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相控阵探头性能的影响因素

相控阵探头性能的影响因素

相控阵探头由压电晶片,匹配层,阻尼块,电缆线,接头,保护膜,外壳等组成,这些结构的性能和设计会直接决定整体相控阵探头的好坏。

复合材料压电晶片

EasyNDT特别设计的复合材料压电晶片是相控阵探头的核心因素之一,成熟工艺流程和独特材料选取确保了产品的品质。使用专门的设计软件可对各种压电复合材料的结构和组合进行最优化设计分析和选择,保证非常高的灵敏度和信噪比水平。

晶片匹配层

针对相控阵探头的不同使用条件(手动、自动、直接接触,接触楔块),探头匹配层的优化声能转换设计,缩短脉冲长度和耐磨。

阻尼块

阻尼块是为了缩短脉冲长度和减弱的回声。特别的阻尼材料配方,在缩短脉冲长度的同时避免声能损失,以达到更高的灵敏度。

外壳

可设计用于满足各种使用条件要求,制作可匹配各种扫查器、高温、水浸、狭小空间和探头楔块一体化等相控阵探头。

相控阵探头线缆

相控阵探头线缆的性能也是影响整体性能的关键因素。线缆衰减必须尽可能低,尤其是用于高频探头。线缆的弯曲性能便于检测小空间,同时保持较高的机械阻力和恒定的电特性。

探头连接器

探头连接器的作用是将探头连接到的仪器或检测系统。它必须适应高速传输和环境约束(频率处理、浸渍、振动等),同时保证上万次以上的插拔质量。

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